0
0
0

Uji Sampel X-Ray Diffraction (XRD)

Rp210,000
Tersedia
Tambahkan ke daftar keinginan

Alat untuk menentukan struktur kristal dari bahan padat dengan menganalisis pola difraksi sinar-X.

Ketentuan:

  • Sampel serbuk: massa minimum ± 0.2 gram, maksimum 1 gram.
  • Sampel film tipis: minimal area 1 × 1 cm, menempel kuat pada substrat.
  • Sampel bulk: permukaan harus rata dan halus.
  • Sampel tidak boleh lengket, basah, atau mengandung pelarut volatil.
  • Tidak diperkenankan mengirimkan sampel melebihi jumlah/berat yang ditentukan.
  • Pelanggan dapat menyertakan standar referensi/JCPDS bila ada.
Jasa
Data Keluaran (Difraktogram) X-Ray Diffraction Posisi Puncak (Sudut 2θ), Intensitas Puncak (Intensity), Lebar Puncak (FWHM - Full Width at Half Maximum)
Instrumen dan Pengukuran X-Ray Diffraction Sumber Sinar-X, Rentang Sudut Pindai (Scan Range 2θ), Optik Instrumen, Kecepatan Pindai (Scan Speed) dan Ukuran Langkah (Step Size)
Keranjang Belanja
Keranjang Belanja Anda Kosong
Lanjutkan Belanja
{{ item.product_name }}
{{ item.sku_code }} - {{ item.variant_label }} {{ item.item_type_label }}
{{ item.price_format }}
{{ item.subtotal_format }}
Total {{ totalAmount }}
Checkout Sekarang Ke kereta belanja